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Zeta電位與粒徑分析儀是一種集納米粒度測(cè)量、Zeta電位分析及分子量檢測(cè)于一體的多功能分析設(shè)備，廣泛應(yīng)用于納米材料、膠體化學(xué)、生物醫(yī)藥、食品、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。其核心功能是通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）及靜態(tài)光散射（SLS）...

以下是多波長(zhǎng)分離行為分散儀的使用細(xì)節(jié)說(shuō)明，涵蓋操作流程、關(guān)鍵參數(shù)與注意事項(xiàng)，助您高效完成實(shí)驗(yàn)并保障設(shè)備穩(wěn)定性：一、使用前準(zhǔn)備1.環(huán)境與設(shè)備檢查環(huán)境要求：保持實(shí)驗(yàn)室溫度(建議20±5℃)、濕度(設(shè)備自檢：開(kāi)機(jī)后等待至少30分鐘預(yù)...

動(dòng)態(tài)光散射(DLS)粒度分析儀的準(zhǔn)確度受多種因素影響，以下從儀器原理、樣品特性、環(huán)境條件、操作流程及數(shù)據(jù)分析等維度進(jìn)行系統(tǒng)性分析：一、儀器性能與參數(shù)設(shè)置1.光源穩(wěn)定性與波長(zhǎng)選擇激光源的單色性、功率穩(wěn)定性及波長(zhǎng)匹配性直接影響散射信號(hào)質(zhì)量。高穩(wěn)...

液體顆粒計(jì)數(shù)器是一種用于檢測(cè)和計(jì)數(shù)液體中顆粒物的儀器，在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其工作原理主要基于光散射或光阻法。在光散射原理中，當(dāng)光束通過(guò)液體時(shí)，顆粒會(huì)散射光線(xiàn)，散射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)與顆粒的大小有關(guān)，通過(guò)測(cè)量散射光的強(qiáng)度和波長(zhǎng)，可推斷出顆粒...

拋光液檢測(cè)儀是一種用于分析拋光液中顆粒粒度及分布、濃度等參數(shù)的精密儀器，在半導(dǎo)體制造、材料加工等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。其工作原理多樣，部分采用動(dòng)態(tài)光散射原理，粒徑檢測(cè)范圍可達(dá)0.3nm-10μm，能分析多組分、粒徑分布不均勻的液態(tài)分散體系；還有運(yùn)用...

拋光液檢測(cè)儀是一種用于分析拋光液中顆粒粒度及分布、濃度等參數(shù)的精密儀器，在半導(dǎo)體制造、材料加工等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。其工作原理多樣，部分采用動(dòng)態(tài)光散射原理，粒徑檢測(cè)范圍可達(dá)0.3nm-10μm，能分析多組分、粒徑分布不均勻的液態(tài)分散體系；還有運(yùn)用...

高壓微射流均質(zhì)機(jī)是一種基于動(dòng)態(tài)高壓微射流技術(shù)的精密設(shè)備，通過(guò)超高壓力與微射流效應(yīng)實(shí)現(xiàn)物料的納米級(jí)均質(zhì)化處理。以下從核心原理、操作流程、參數(shù)設(shè)置、應(yīng)用實(shí)例及維護(hù)要點(diǎn)等方面詳細(xì)介紹其使用細(xì)節(jié)：一、核心工作原理高壓微射流均質(zhì)機(jī)通過(guò)電動(dòng)液壓系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)...

高壓微射流均質(zhì)機(jī)是一種利用高壓微射流技術(shù)實(shí)現(xiàn)物料納米級(jí)處理的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域。其核心工作原理是通過(guò)電動(dòng)液壓系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)增壓泵產(chǎn)生高壓（最高可達(dá)30,000psi或420MPa），使物料在金剛石交互容腔的微通道內(nèi)因高剪切力和碰撞力實(shí)現(xiàn)...